Los ensayos no destructivos son de gran impacto en la caracterización de la estructura interna y externa de los materiales y son esenciales en muchos procesos industriales para el control de calidad y el desarrollo de nuevos materiales. Los métodos de medición estándar, como el ultrasonido, presentan una resolución de aproximadamente 100 µm y a menudo requieren un contacto directo entre la sonda y la muestra (por ejemplo, con la ayuda de geles de contacto).
La interferometría de baja coherencia (LCI, low coherence interferometry) es un método óptico que permite la realización de perfilometrías, tomografías y medición de distancias, de manera no destructiva y sin contacto. En la actualidad, los diversos sistemas basados en LCI tienen siglas propias como la tomografía óptica coherente (OCT, optical coherence tomography) y proporcionan resoluciones axiales que van de 1 a 10 µm, con rangos de medición dependientes del detector que pueden ir hasta varios metros y permiten obtener imágenes in situ e in vivo en tiempo real. El principio detrás de LCI se basa en la superposición (interferencia) de las ondas de luz que se reflejan parcialmente a diferentes profundidades dentro de la muestra, y sus tiempos de llegada a un detector con respecto a una onda de referencia.
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Nanofotónica:
Estudiamos las propiedades ópticas de los materiales en la nanoescala, exploramos sus aplicaciones tecnológicas y desarrollamos técnicas e instrumentos para inspeccionar y manipular la materia con extrema precisión. Cuando los materiales poseen estructuras de dimensiones tan pequeñas, sus propiedades fisicoquímicas cambian significativamente respecto de los mismos materiales macroscópicos que conocemos. Diseñamos, fabricamos y caracterizamos sistemas nanoestructurados con propiedades ópticas predeterminadas, y los aplicamos en microscopías y espectroscopías de muy alta resolución, en sensado molecular ultrasensible, en fotocatálisis y en diversos experimentos de la nanofotónica.
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